Mikroskopija skenirajućom sondom · SPM
- instrumentation
Definicija: AFM i STM mjere silu ili tunelsku struju za mapiranje topografije i lokalnih svojstava do atomskog nivoa.
- Polje: instrumentation
- Aliasi: Scanning Probe Microscopy
- Varijante: Scanning Probe Microscopy
- ID: S2060
AFM, tehnika SPM‑a, snima DNK na miki.
AFM, an SPM technique, images DNA on mica.