Rendgenska difrakcija · X-ray diffraction
- materials characterization
Definicija: Mjeri d‑razmake i fazne sastave; θ–2θ dijagrami daju identifikaciju faza i napone.
- Polje: materials characterization
- ID: P0924
Braggov zakon nλ=2d sinθ objašnjava vrhove u XRD‑u.
Bragg’s law nλ=2d sinθ explains XRD peaks.